Am Messestand: Testsysteme zur Charakterisierung von AR/VR-Geräten

Ein perfektes Anwendererlebnis mit AR/VR-Headsets erfordert in der Produktion umfangreiche, schnelle und hochpräzise optische Tests. Instrument Systems bietet für diese Herausforderungen die speziell entwickelte 2D-Farbmesskamera LumiTop AR/VR an. Das AR/VR-Objektiv der LumiTop bildet das menschliche Auge möglichst naturgetreu nach und misst Farbe und Leuchtdichte so, wie es das Auge sieht. Das einzigartige Periskop-Design ermöglicht synchronisierte 2-Augen-Messungen. Und das bewährte LumiTop-Prinzip garantiert sehr schnelle, rückführbare und hochgenaue Messungen. Neben dem virtuellen Display enthalten AR/VR-Headsets verschiedene Typen von Lichtquellen und Sensoren, die das Eintauchen in eine virtuelle Welt möglich machen. Instrument Systems bietet auch hierfür Testsysteme an, z.B. die IR-Lichtquellen (NIR LEDs / VCSEL) eines Headsets, welche häufig für Gestik- und Objekterkennung verwendet werden.

• Test des virtuellen Bildes mit LumiTop AR/VR
• Pixeltest der Bildquelle mit LumiTop X150 (bis zu 600 MP)
• Räumlich aufgelöste Spektren mit DMS Goniometer
• 3D-Gestenerkennung-Sensortest mit Far-field-Kamera
• Time-of-flight-Sensortest für Pulse bis 1 ns

Am Messestand: Preview der LumiTop X20

Ein besonderes Highlight auf der Display Week ist die Preview der brandaktuellen LumiTop X20, die im Herbst 2021 erwartet wird. Als Verbesserung zu den bereits bewährten Vorgängermodellen 2700 und 4000 bietet die LumiTop X20 eine hohe Kameraauflösung, ein flexibles Sichtfeld und einen weiten Dynamikbereich für hohe und niedrige Leuchtdichtemessungen. Geeignete Anwendungen sind die Homogenität (insbesondere hohe / niedrige Leuchtdichte) und die Fehlererkennung.

Display Week Short Course S-2: Fundamentals of Display Metrology

Als Teil der virtuellen Display Week Konferenz präsentiert Dr. Reto Häring, Vice President Customer Solutions, gemeinsam mit Radiant Vision Systems und Konica Minolta den Short-Course S2. Der Kurs "Fundamentals of Display Metrology" befasst sich mit den Grundlagen und Anwendungen der Display-Metrologie und stellt Messlösungen und Messtechniken vor. Spannende Themen aus der Welt der  Licht- und Farbwissenschaft erklären Messeinheiten, Messstandards sowie Metrologiesysteme vom Spotmeter bis zu bildgebenden Systemen. Auch Testmethoden zur Analyse von Displayeigenschaften wie z.B. Mura, Pixel-Uniformität und Flicker werden neben den neuesten Messlösungen für innovative Displaytechnologien mit µLEDs oder in AR/VR-Devices vorgestellt. Der Short Course S2 ist ab Donnerstag, den 20. Mai 2021 online verfügbar.

Display Week Vortrag: Farbgleichmäßigkeit von µLED-Displays – Neues Farbkalibrierungskonzept für schnelle und genaue optische Tests

Displays erfordern eine hohe Gleichförmigkeit in Leuchtdichte und Farbe, um die wachsenden Anforderungen der Nutzer zu erfüllen. Bereits in der Fertigung werden sie deshalb mithilfe von bildgebender Lichtmesstechnik daraufhin überprüft. Moderne μLED-Displays versprechen neue Vorteile: hoher Kontrast, schnelle Responsezeiten, breiter Farbumfang, geringer Stromverbrauch bei gleichzeitig langer Lebensdauer. Demgegenüber steht eine Technologie, die die optische Qualitätskontrolle vor große Herausforderungen stellt. Denn die Farbabweichungen der μLEDs können deutlich größer sein als in der LC-/OLED-Displaytechnologie. Insbesondere die schmale Emissionsbandbreite der μLEDs kann zu großen Messfehlern führen, da die Farbfilter des Messgerätes und die CIE1931-Tristimulusfunktionen zwangsläufig nicht exakt übereinstimmen.

Dr. Tobias Steinel beschreibt in seiner Präsentation „Color Uniformity of µLED Displays: New Color Calibration Concept for Fast and Accurate Optical Testing“, wie die überlegene Messgenauigkeit von Spektralradiometern auf die schnelleren bildgebenden Lichtmesssysteme übertragen werden kann. Diese einzigartige Kombination erfüllt gleichzeitig die Anforderungen der μLED-Produktion an Geschwindigkeit und Farbgenauigkeit. Die Präsentation ist ab Freitag, den 21.05.2021 online zu sehen.