Um auch die eigene Testabdeckung erhöhen zu können wurde – zusätzlich zur Kontrolle der Boundary Scan-fähigen Komponente – das gleiche standardisierte Diagnoseprotokoll wie einem In-Circuit Test genutzt. Dabei wird mit der gleichen Funktion, mit der Daten an die Boundary Scan-Zelle ausgesendet- und empfangen werden, die Funktionalität des Non-Boundary Scan-Bauteils stimuliert, indem der entsprechende Eingang angesteuert und dessen Ausgangssignale erfasst werden. Dies verhält sich im Prinzip so, als ob Digitaltest seine eigenen Testtreiber und –Sensoren in die integrierten Schaltungen (ICs) eingebaut hätte.

Digitaltest griff dabei auf die aktuellen Möglichkeiten seines eigenen Testsystems zurück und steuerte die Boundary Scan-Komponenten über einfache Befehle direkt von der Benutzeroberfläche aus. Die Tests konnten durchgeführt werden, indem ein „Virtueller Pin“ zwischen einer Boundary Scan- und einer sich in unmittelbarer Umgebung befindlichen Nicht-Boundary Scan-Komponente platziert wurde.

Digitaltest konnte damit die Testabdeckung drastisch erhöhen, ohne dabei zusätzliche Kosten für externe Geräte zu verursachen. Mit diesem Konzept lassen sich auch kleinste Leiterplatten mit eingeschränktem Testzugang ganz einfach testen – auch, wenn sie dicht mit winzigen Bauteilen bestückt sind.