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Apr
On demand schauen: „Lock-In-Thermografie für Elektronik- und Halbleitermodulprüfung“
Die Inspektion elektronischer Komponenten und Baugruppen mit Hilfe der Aktiv-Thermografie ist ein etabliertes Prüfverfahren zur Fehlersuche und Qualitätssicherung – von der Prototypen-Entwicklung bis hin zur Serienproduktion. Mit diesem äußerst empfindlichen Verfahren lassen sich atypische Temperaturverteilungen und Hotspots mit Variationen von wenigen Millikelvin an Oberflächen von Leiterplatten, integrierten Schaltkreisen und Multichip-Modulen zuverlässig berührungslos detektieren. Die Lock-In-ThermografieRead more about On demand schauen: „Lock-In-Thermografie für Elektronik- und Halbleitermodulprüfung“[…]
